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反應(yīng)堆容積式換熱器定位鍵安裝技術(shù)研究
案。
核反應(yīng)堆容量式熱交換器設(shè)立4塊固定不動堆芯金邊吊蘭的定位鍵，如。辨別分配在筒節(jié)090180270部位。其作用是堆內(nèi)構(gòu)件設(shè)備時，確保頂蓋驅(qū)動器管座孔與堆內(nèi)構(gòu)件孔同軸度要求。設(shè)計方案要求堆內(nèi)構(gòu)件靠定位鍵定位、設(shè)備后與頂蓋開展電子光學(xué)對中，確保頂蓋管座孔與堆內(nèi)構(gòu)件孔同軸度要求：管理中心孔準(zhǔn)予誤差為0.30mm，相匹配旁邊的4個孔準(zhǔn)予誤差為0.60mm，如。
1加工工藝分析與方案科學(xué)研究為了更好地能確保管座孔與堆內(nèi)構(gòu)件孔同軸度要求。應(yīng)能恰當(dāng)?shù)貦z驗出管座孔跟堆內(nèi)構(gòu)件孔的肯定部位，但器皿盒蓋后，堆內(nèi)構(gòu)件處在密閉式器皿內(nèi)，通例檢驗方式跟測試工具無可奈何開展檢驗，應(yīng)研制開發(fā)一套非接觸式電子光學(xué)測量管理體系來測量孔距精密度。次之應(yīng)能確保定位鍵的設(shè)備精密度，使其安裝后堆內(nèi)構(gòu)件能隨意成功、無卡滯的沿定位鍵落在器皿支撐點臺肩膀，確保二者的間隙在設(shè)計方案要求中間，另外也要令人滿意頂蓋管座孔與堆內(nèi)構(gòu)件孔的同軸度要求。
1.1高精密非接觸式電子光學(xué)測量管理體系為了更好地恰當(dāng)?shù)貦z驗出管座孔與堆內(nèi)構(gòu)件孔的對稱度，我們采用了測量精密度較為高的聯(lián)線法開展測量。方式是在管座012孔及堆內(nèi)構(gòu)件上、下板肯定應(yīng)的孔上辨別設(shè)定靶點，靶點以具體孔尺寸公差配作以發(fā)展相互配合精密度。測量時以堆內(nèi)構(gòu)件上、下板兩靶點為標(biāo)準(zhǔn)定中心線，檢驗頂蓋管座孔靶點的肯定部位。
1.2定位鍵的設(shè)備方案在臺器皿安裝時，定位鍵的生產(chǎn)加工方式是：定位鍵鍵寬規(guī)格先生產(chǎn)加工到量，銷孔暫未生產(chǎn)加工，在廠內(nèi)開展電子光學(xué)對中，靠定位鍵的把合外螺紋的外螺紋間隙調(diào)濟模版，在令人滿意頂蓋管座孔與模版孔同軸度要求后，同生產(chǎn)加工定位鍵與筒節(jié)的銷孔，裝定位銷。待器皿到造船廠開展復(fù)查時創(chuàng)造發(fā)明定位鍵造成了歪斜，模版及堆內(nèi)構(gòu)件均無可奈何畸型設(shè)備及時，造成卡滯景色。分析起由于定位鍵在數(shù)控車床上生產(chǎn)加工銷孔時，定位鍵造成松脫，導(dǎo)致定位鍵歪斜而致。
糾正方式是先制作工藝鍵，銷孔按具體部位與筒節(jié)銷孔在數(shù)控車床高度一致生產(chǎn)加工，因在生產(chǎn)加工進程中定位鍵的松脫防止不上，必然導(dǎo)致定位鍵的歪斜，因此 定位鍵與筒節(jié)在裝銷定位后需對鍵側(cè)開展改動，確保定位鍵鍵側(cè)與器皿支撐點臺肩的平整度在一定誤差之內(nèi)。此外定位鍵的鍵側(cè)流量，在造船廠與堆內(nèi)構(gòu)件開展對中檢驗，因加工工藝鍵與堆內(nèi)構(gòu)件健槽有非常大間隙，檢驗進程中很有可能對堆內(nèi)構(gòu)件開展調(diào)整，以確保管座孔與堆內(nèi)構(gòu)件孔的同軸度要求。檢驗成績及格后評測加工工藝鍵與堆內(nèi)構(gòu)件健槽的間隙，生產(chǎn)加工商品鍵。此方案經(jīng)幾臺器皿的設(shè)備具體，不良影響非常好。
2定位鍵設(shè)備進程中的誤差分析商品鍵生產(chǎn)加工后應(yīng)另外確保2個指標(biāo)值，一是定位鍵鍵側(cè)與堆內(nèi)構(gòu)件健槽間隙應(yīng)在設(shè)計方案要求中間，二是令人滿意電子光學(xué)對之后同軸度要求。因此以加工工藝鍵為標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)加工商品鍵的進程就至關(guān)重要。
2.1定位鍵設(shè)備進程中的誤差分析定位鍵的設(shè)備進程是：堆內(nèi)構(gòu)件就坐落于器皿支撐點臺肩膀，裝2個導(dǎo)向性定位栓，然后頂蓋沿導(dǎo)向性定位栓落裝，再開展電子光學(xué)檢驗。此進程蔓延到的誤差影響因素許多 ，有頂蓋起吊進程中的反復(fù)定位誤差，有堆內(nèi)構(gòu)件反復(fù)安裝進程的定位誤差，也是有電子光學(xué)對中檢測中的測量誤差，此外也有定位鍵的生產(chǎn)加工誤差。之上眾多要素的危害有時候就算是加工工藝鍵對中檢驗成績及格，商品鍵的對中檢驗也不一定成績及格，這時候就務(wù)必使加工工藝鍵的對中檢驗誤差盡可能的小，為事后的頂蓋及堆內(nèi)構(gòu)件的二次安裝等誤差空出充足的誤差空間，促使商品鍵在對中檢驗時就算總計了所述誤差也在成績及格的范圍內(nèi)。
2.2頂蓋起吊進程中的反復(fù)定位誤差頂蓋、筒節(jié)與導(dǎo)向性定位栓相互配合的位置，因工程圖紙得出的尺寸公差是間隙相互配合，因此 頂蓋導(dǎo)向性定位栓孔與導(dǎo)向性定位栓、筒節(jié)080及0120段都和導(dǎo)向性定位栓有間隙，其較大 的定位誤差按分別的具體生產(chǎn)加工規(guī)格來開展籌算。以筒節(jié)為標(biāo)準(zhǔn)開展籌算，觀點是以筒節(jié)為標(biāo)準(zhǔn)頂蓋因反復(fù)落裝而造成的限誤差為0.095毫米. 2.3堆內(nèi)構(gòu)件反復(fù)安裝進程的定位誤差堆內(nèi)構(gòu)件健槽與商品定位鍵的相互配合間隙應(yīng)確保在設(shè)計方案要求中間，為發(fā)展定位精密度，在生產(chǎn)加工商品鍵鍵寬時我們嚴(yán)苛掌權(quán)其標(biāo)準(zhǔn)公差，確保其相互配合間隙在劃分范圍內(nèi)。堆內(nèi)構(gòu)件落裝時的情況較為繁雜，根據(jù)前、后落裝的部位較為較有平移變換進程，也是有沿某一點轉(zhuǎn)動的進程。經(jīng)籌算其純平移變換進程的定位誤差較大 ，限誤差達到0.115毫米. 2.4電子光學(xué)對中檢測中的測量誤差經(jīng)分析籌算，各種各樣靶點定位圓柱體與管理中心孔中間有同軸度誤差，定位總體目標(biāo)與被測孔有相互配合間隙，人的眼睛開展估測查看有誤差，籌算電子光學(xué)對中檢驗的總測量誤差為低于0.02mm. 2.5總的誤差分析根據(jù)所述各階段的誤差分析，總的誤差為0.23mm，而管理中心孔的準(zhǔn)予同軸度誤差為0.3毫米，這表明加工工藝鍵電子光學(xué)對里時的同軸度誤差允許在0.07mm之內(nèi)能令人滿意商品鍵的對中精密度要求，但在具體安裝進程中限誤差另外造成的是多少率是十分小，因而加工工藝鍵對里時的同軸度誤差掌權(quán)在0.毫米誤差之內(nèi)就很有可能令人滿意要求。
3總結(jié)為了更好地確保定位鍵設(shè)備精密度，采用了首先用加工工藝鍵電子光學(xué)對中，然后根據(jù)加工工藝鍵對中結(jié)果生產(chǎn)加工商品的加工工藝方式來完成其對中精密度，令人滿意了設(shè)計方案要求。此定位鍵設(shè)備方案是行得通的，存有好用跟營銷推廣的使用價值。